GB 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
作者:标准资料网
时间:2024-05-19 20:48:46
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基本信息
| 标准名称： | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
| 英文名称： | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Determination of microstructure |
| 中标分类： | |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1985-01-01 |
| 实施日期： | 1986-01-02 |
| 首发日期： | 1985-11-27 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 电子工业部 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 上海科技大学 |
| 起草人： | 李中和 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1986-01-02 |
| 页数： | 3页 |
适用范围
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。
本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类：
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